Spektrometer Pendarfluor Sinar-X Tenaga-Penyebaran direalisasikan dengan menganalisis ciri panjang gelombang sinar-X dan keamatan unsur-unsur yang dipancarkan oleh sampel. Unsur-unsur yang terkandung dalam sampel ditentukan mengikut ciri panjang gelombang sinar-X yang berbeza bagi unsur-unsur yang berbeza. Kandungan unsur dalam sampel boleh ditentukan dengan membandingkan keamatan garis spektrum unsur yang berbeza. EDX biasanya digunakan bersama-sama dengan mikroskop elektron, yang membolehkan analisis mikrokomponen sampel.
The
Spektrometer Pendarfluor X-ray Penyerakan Tenaga
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
9.
10.
11.
12.
13.
14.
Ciri produk dan penggunaan Spektrometer Pendarfluor Sinar-X Tenaga-Dispersif
1.Menggunakan pengesan Si-PIN berprestasi tinggi penyejukan elektrik AS yang asal, resolusi tinggi, julat pengesanan luas, meliputi RoHS, halogen, salutan, aloi (termasuk logam berharga) dan pelbagai analisis bahan konvensional keperluan asas.
2. Dilengkapi dengan pemproses bersepadu isyarat berbilang saluran digital DPP yang paling maju, ia mempunyai prestasi yang lebih baik daripada pemproses isyarat berbilang saluran analog biasa, terutamanya dalam kadar kiraan tinggi mempunyai resolusi yang lebih baik (seperti Hg dan Cl, dll.), kelajuan penghantaran data sehingga 80MHz menjadikan masa analisis lebih pendek, kebolehulangan pengukuran dan kestabilan jangka panjang lebih baik.
3. Sistem kamera HD terbina dalam, perhatikan sampel dengan jelas, cari kawasan ujian sampel dengan tepat.
4.
Spektrometer Pendarfluor X-ray Penyerakan Tenaga
